UCC27511AQDBVRQ1 TI
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UCC27511AQDBVRQ1 TI
• Qualifiziert für Automotive-Anwendungen
• AEC-Q100-qualifiziert mit den folgenden Ergebnissen:
– Gerätetemperaturklasse 1: –40 °C bis 125 °C Umgebungstemperaturbereich
– Gerät HBM ESD-Klassifizierung Stufe 2
– Gerät CDM ESD-Klassifizierungsstufe C4B
• Kostengünstiger Gate-Treiber-Baustein, der einen überlegenen Ersatz für diskrete NPN- und PNP-Lösungen bietet
• Asymmetrischer 4-A-Peak-Source- und 8-A-Peak-Sink-Antrieb
• Starker Senkenstrom bietet erhöhte Immunität gegen Miller-Einschalten
• Geteilte Ausgangskonfiguration (ermöglicht eine einfache und unabhängige Einstellung der Ein- und Ausschaltgeschwindigkeiten) im UCC27511A-Q1
• Schnelle Laufzeitverzögerungen (typisch 13 ns)
• Schnelle Anstiegs- und Abfallzeiten (typisch 9 ns und 7 ns)
• 4,5 bis 18 V Einzelversorgungsbereich
• Ausgänge werden während VDD UVLO niedrig gehalten (gewährleistet einen störungsfreien Betrieb beim Ein- und Ausschalten)
• TTL- und CMOS-kompatibler Eingangs-Logik-Schwellenwert (unabhängig von der Versorgungsspannung)
• Hysteretisch-logische Schwellenwerte für hohe Störfestigkeit
• Dual-Input-Design (wahlweise invertierende (IN-Pin) oder nicht-invertierende (IN+ Pin) Treiberkonfiguration)
– Unbenutzter Eingangs-Pin kann für die Aktivierungs- oder Deaktivierungsfunktion verwendet werden
• Ausgang niedrig gehalten, wenn die Eingangspins potentialfrei sind
• Absolute maximale Spannungspegel des Eingangspins, die nicht durch die VDD-Pin-Bias-Versorgungsspannung eingeschränkt sind
• Qualifiziert für Automotive-Anwendungen
• AEC-Q100-qualifiziert mit den folgenden Ergebnissen:
– Gerätetemperaturklasse 1: –40 °C bis 125 °C Umgebungstemperaturbereich
– Gerät HBM ESD-Klassifizierung Stufe 2
– Gerät CDM ESD-Klassifizierungsstufe C4B
• Kostengünstiger Gate-Treiber-Baustein, der einen überlegenen Ersatz für diskrete NPN- und PNP-Lösungen bietet
• Asymmetrischer 4-A-Peak-Source- und 8-A-Peak-Sink-Antrieb
• Starker Senkenstrom bietet erhöhte Immunität gegen Miller-Einschalten
• Geteilte Ausgangskonfiguration (ermöglicht eine einfache und unabhängige Einstellung der Ein- und Ausschaltgeschwindigkeiten) im UCC27511A-Q1
• Schnelle Laufzeitverzögerungen (typisch 13 ns)
• Schnelle Anstiegs- und Abfallzeiten (typisch 9 ns und 7 ns)
• 4,5 bis 18 V Einzelversorgungsbereich
• Ausgänge werden während VDD UVLO niedrig gehalten (gewährleistet einen störungsfreien Betrieb beim Ein- und Ausschalten)
• TTL- und CMOS-kompatibler Eingangs-Logik-Schwellenwert (unabhängig von der Versorgungsspannung)
• Hysteretisch-logische Schwellenwerte für hohe Störfestigkeit
• Dual-Input-Design (wahlweise invertierende (IN-Pin) oder nicht-invertierende (IN+ Pin) Treiberkonfiguration)
– Unbenutzter Eingangs-Pin kann für die Aktivierungs- oder Deaktivierungsfunktion verwendet werden
• Ausgang niedrig gehalten, wenn die Eingangspins potentialfrei sind
• Absolute maximale Spannungspegel des Eingangspins, die nicht durch die VDD-Pin-Bias-Versorgungsspannung eingeschränkt sind
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