LM2903QPWRQ1 TI
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LM2903QPWRQ1 TI
Merkmale • Qualifiziert für Automobilanwendungen • AEC-Q100-qualifiziert mit den folgenden Ergebnissen: – Gerätetemperaturklasse 0: –40 °C bis 150 °C Umgebungstemperaturbereich (LM2903E-Q1) – Gerätetemperaturklasse 1: –40 °C bis 125 °C Betriebstemperaturbereich – Geräte-HBM-ESD-Klassifizierungsstufe H1C – Bauteil-CDM-ESD-Klassifizierungsstufe C4B • Verbesserte 2-kV-HBM-ESD-ESD für "B"-Gerät • Tri-Temp-Prüfung für "B"-Gerät verfügbar • Einzel- oder Doppelversorgung • Niedriger Versorgungsstrom unabhängig von der Versorgungsspannung 200 uA typisch pro Komparator ("B"-Versionen) • Niedriger Eingangs-Bias-Strom 3,5 nA typisch ("B"-Baustein) • Niedriger Eingangs-Offset-Strom 0,5 nA Typ ("B"-Baustein) • Niedrige Eingangs-Offset-Spannung ±0,37 mV typ ("B"-Baustein) • Gleichtakt-Eingangsspannungsbereich einschließlich Masse • Differenzieller Eingangsspannungsbereich gleich der maximalen Nennversorgungsspannung ±36 V • Ausgang kompatibel mit TTL, MOS und CMOS • Funktionale Sicherheit – Dokumentation zur Unterstützung des Designs von Systemen für funktionale Sicherheit verfügbar
Merkmale • Qualifiziert für Automobilanwendungen • AEC-Q100-qualifiziert mit den folgenden Ergebnissen: – Gerätetemperaturklasse 0: –40 °C bis 150 °C Umgebungstemperaturbereich (LM2903E-Q1) – Gerätetemperaturklasse 1: –40 °C bis 125 °C Betriebstemperaturbereich – Geräte-HBM-ESD-Klassifizierungsstufe H1C – Bauteil-CDM-ESD-Klassifizierungsstufe C4B • Verbesserte 2-kV-HBM-ESD-ESD für "B"-Gerät • Tri-Temp-Prüfung für "B"-Gerät verfügbar • Einzel- oder Doppelversorgung • Niedriger Versorgungsstrom unabhängig von der Versorgungsspannung 200 uA typisch pro Komparator ("B"-Versionen) • Niedriger Eingangs-Bias-Strom 3,5 nA typisch ("B"-Baustein) • Niedriger Eingangs-Offset-Strom 0,5 nA Typ ("B"-Baustein) • Niedrige Eingangs-Offset-Spannung ±0,37 mV typ ("B"-Baustein) • Gleichtakt-Eingangsspannungsbereich einschließlich Masse • Differenzieller Eingangsspannungsbereich gleich der maximalen Nennversorgungsspannung ±36 V • Ausgang kompatibel mit TTL, MOS und CMOS • Funktionale Sicherheit – Dokumentation zur Unterstützung des Designs von Systemen für funktionale Sicherheit verfügbar
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